Solis SAB 半微量分析天平-SAB 224e

簡(jiǎn)要描述：艾德姆Solis SAB 半微量分析天平-SAB 224e
量程：220g
精度：0.0001g
秤盤(pán)尺寸：80mm

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-05-23
訪問(wèn) 量：647

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產(chǎn)品介紹：

憑借高分辨率圖形顯示和直觀的性能，Solis分析天平為各地的實(shí)驗(yàn)室提供了完'美的解決方案。Solis是研究和質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室、科學(xué)教育、精密計(jì)數(shù)、以及需要精確結(jié)果的生產(chǎn)和制造應(yīng)用的理想選擇。用戶可以快速地在大尺寸的圖形顯示屏上讀取全部數(shù)據(jù)。多語(yǔ)言顯示功能可以在不同的區(qū)域使用它，而可識(shí)別的圖標(biāo)有助于稱重過(guò)程的順利進(jìn)行。Solis半微量分析天平最多可儲(chǔ)存99種成分，簡(jiǎn)化了配方功能。

特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

高分辨率顯示器清晰顯示數(shù)據(jù)
水平儀和調(diào)節(jié)腳便于調(diào)整天平水平位置，以獲得最佳的稱量結(jié)果。
304不銹鋼大秤盤(pán)方便清潔
RS-232 接口用于連接到計(jì)算機(jī)和打印機(jī)
配有電源適配器
可用砝碼對(duì)天平進(jìn)行外部校準(zhǔn)

可選數(shù)字濾波控制振動(dòng)的影響和干擾
良好實(shí)驗(yàn)室打印結(jié)果顯示日期和時(shí)間，方便數(shù)據(jù)追蹤，符合GLP良好的實(shí)驗(yàn)室操作規(guī)范。
有多種語(yǔ)言選擇
檢測(cè)稱重帶有聲光報(bào)警
零件計(jì)數(shù)功能可預(yù)先設(shè)置樣品大小
安全鎖槽與選配鎖，防丟失盜竊